6 位 WCO 子目 · 全球统一

903141用于检查半导体晶圆、器件、光掩模或网版

For inspecting semiconductor wafers, or devices(including integrated circuits) or for inspecting photo-masks or reticules used in manufacturing semiconductor devices(including integrated circuits)

12 国进口税率对照

HS 子目 903141 在 12 个主要贸易管辖区的首要进口税率对照

墨西哥 具体税号

1 个细分税号

HS 编码商品描述首要税率
90314101Para control de obleas (“wafers”) o dispositivos semiconductores, o control de máscaras o retículas utilizadas en la fabricación de dispositivos semiconductores.
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