90314970

HS 编码 9031.49.70.00（第 90 章「光学、测量、医疗仪器」；品目 9031「未列名测量或检验仪器、器具及机器；轮廓投影仪」；子目 903149「其他」）在美国税则中对应"For inspecting masks (other than photomasks) used in manufacturing semiconductor devices; for measuring surface particulate contamination on semiconductor devices"。美国海关对该编码商品征收最惠国税率 (MFN) Free、第二栏税率 50%。法定计量单位为No.。