90308200

HS 编码 9030.82.00.00（第 90 章「光学、测量、医疗仪器」；品目 9030「示波器、频谱分析仪、电量测量及辐射探测仪器」；子目 903082「用于测量或检查半导体晶片或器件(包括集成电路)」）在美国税则中对应"For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)"。美国海关对该编码商品征收最惠国税率 (MFN) Free、第二栏税率 40%。法定计量单位为No.。