WCO 分类路径
- 章90光学、测量、医疗仪器
- 品目9030示波器、频谱分析仪、电量测量及辐射探测仪器AI 译
- 子目903082用于测量或检查半导体晶片或器件(包括集成电路)AI 译
- 国家码90308201Para medida o control de obleas (“wafers”) o dispositivos, semiconductores.
90308201
"For measuring or checking semiconductor wafers or devices(including integrated circuits)"
WCO HS-6上方为 WCO 国际分类英文；国家级 8-10 位细分原文（西班牙语）：
"Para medida o control de obleas (“wafers”) o dispositivos, semiconductores."
"Para medida o control de obleas (“wafers”) o dispositivos, semiconductores."
HS 编码 90308201（第 90 章「光学、测量、医疗仪器」；品目 9030「示波器、频谱分析仪、电量测量及辐射探测仪器」；子目 903082「用于测量或检查半导体晶片或器件(包括集成电路)」）在墨西哥税则中对应"Para medida o control de obleas (“wafers”) o dispositivos, semiconductores."。法定计量单位为06。
同一 HS 6 位前缀 9030.82 在其他国家的税率对照