903082010

HS 编码 903082010（第 90 章「光学、测量、医疗仪器」；品目 9030「示波器、频谱分析仪、电量测量及辐射探测仪器」；子目 903082「用于测量或检查半导体晶片或器件(包括集成电路)」）在日本税则中对应"- Character measuring testers"。日本海关对该编码商品征收一般税率 Free、WTO 税率 (Free)。法定计量单位为NO。目前有 21 项自贸协定优惠税率可适用于该编码。